磁头的检查方法和检查装置<%=id%>

川田贞夫;诸江道明
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：北京三幸商标专利事务所
代理人：刘激扬
摘要
　本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置，该磁头具有薄膜元件，并且设有与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时，不会烧毁MR头。
主权项
　权利要求书 1.一种磁头的检查方法，该磁头具有薄膜元件，并且设有与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从 DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR) 测定的工序。

设为首页 | 加入收藏 | 广告服务 | 友情链接 | 版权申明