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    P型信道氮化硅只读存储器的擦除方法<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权:
    申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
    地 址: 台湾省新竹科学工业园区力行路16号
    发 明 (设计)人: 林宏穗;赖汉昭;卢道政
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 北京集佳专利商标事务所
    代 理 人: 王学强
    摘要
      本发明是有关于一种p型信道氮化硅只读存储器的擦除方法,此擦除方法对一个在电荷陷入层中储存有电荷的p型信道氮化硅只读存储器,在控制栅极施加一个正电压,在漏极施加一个负电压,将源极浮置以及将此p型信道氮化硅只读存储器所在的n井接地。并且使得控制栅极与漏极之间的电压差足以使p型信道氮化硅只读存储器以频带间引发热电子注入法进行擦除。
    主权项
      权利要求书 1.一种p型信道氮化硅只读存储器的擦除方法,其中该p型信道 氮化硅只读存储器具有一控制栅极、一源极、一漏极、以及形成有一n 井,其特征为:该方法包括下列步骤: 对该控制栅极施加一正电压,对该漏极施加一负电压,将该源极 浮置以及将该n井接地。
         

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