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    测定物体中材料成分的方法<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权: 1999.11.5 US 09/434,700
    申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
    地 址: 美国纽约州
    发 明 (设计)人: J·T·布朗恩;富晓东;M·K·米斯拉
    国 际 申 请: CT/US00/28282 2000.10.12
    国 际 公 布: WO01/35082 英 2001.5.17
    进入国家日期: 2002.07.03
    专利 代理 机构: 上海专利商标事务所
    代 理 人: 李家麟
    摘要
      揭示了测定在基底上沉积的粉尘中的至少一个组分成份的方法和设备。该方法包括了以下步骤,即发射能量脉冲到基底,聚焦能量到基底上的预定点从而在基底上产生等离子体并且产生至少一个光子,使用分析设备探测光子,并且鉴别粉尘中组分。该方法也包括了测定组分浓度的步骤。另外,该方法也可以用于测定反应炉或反应流的火焰中的至少一个反应物的成份和浓度。
    主权项
      权利要求书 1.测定在粉尘涂覆的基底上至少一种组分的成份和/或数量,其特征在于, 该方法包括了下面的步骤: 发射能量脉冲到涂覆基底上; 把能量聚焦到基底上的预定点上从而在基底上产生等离子体并且产生至少一 个光子; 使用分析设备探测光子; 测定粉尘中组分的成份或数量。
         

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