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    射线照相的方法与装置和辐射检测器<%=id%>


    分 类 号: G01T1/185;H01J47/02
    颁 证 日:
    优 先 权: 1999.12.29 SE 9904834-0
    申请(专利权)人: 埃克斯康特尔股份公司
    地 址: 瑞典丹德吕德
    发 明 (设计)人: 汤姆·弗兰克;克里斯特·乌尔博格
    国 际 申 请: CT/SE00/02113 2000.10.27
    国 际 公 布: WO01/50155 英 2001.7.12
    进入国家日期: 2002.06.28
    专利 代理 机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
    代 理 人: 王永刚
    摘要
      一种用于射线照相的方法和装置及检测入射射线的检测器。在本方法和装置中,X-射线(9)从X-射线源(60)发射。与成像物体(62)干涉的所述X-射线在检测器(64)中被检测。检测入射射线的检测器(64)为一个气体雪崩室,包括在其间施加电压来产生电场的电极配置,此电场导致被入射射线释放的一次和二次离子化电子的电子-离子雪崩。检测器检测至少两个检测器电极模块中的电信号,所述电信号由电子-离子雪崩感生,多个检测器电极元件中至少一个彼此相邻布置,每个沿着基本平行于入射射线的方向,在至少两个独立检测器电极模块布置成彼此紧密接近的地方,每个沿着基本平行于入射射线的方向。
    主权项
      权利要求书 1.一种获得射线照相图象的方法包括步骤 -从X-射线源发射X-射线 -在包括电极配置,其间施加产生电场的电压的气体雪崩检测器 内,检测与成像物体干涉的X-射线, 其特征在于: -在至少两个检测器电极模块内检测电信号,上述电信号由电子 -离子雪崩感生,在彼此相邻布置的多个检测器电极元件的至少一个 内,每个沿着基本平行于入射射线的方向,而在至少两个独立检测器 电极模块被彼此紧密相邻布置处,每个沿着基本平行于入射射线的方 向。
         

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