相关文章  
  • 加热炉与半导体基板装载治具的组合及半导体装置的制造方法
  • 形成电阻性电极的方法
  • 一种高介电栅介质结构及其制备方法
  • 一种在钛酸锶基片上制备纳米级有序微裂纹的方法
  • 绝缘膜形成材料,绝缘膜,形成绝缘膜的方法及半导体器件
  • 硅锗/绝缘体上外延硅互补金属氧化物半导体及其制造方法
  • 半导体晶片的封装方法及其成品
  • IC卡制造装置
  • 一种永磁操动机构
  • 灯泡形荧光灯和照明器具
  •   推荐  
      科普之友首页   专利     科普      动物      植物        天文   考古   前沿科技
     您现在的位置在:  首页>>专利 >>专利推广

    自动化集成电路整机测试控制方法<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权:
    申请(专利权)人: 威盛电子股份有限公司
    地 址: 台湾省台北县新店市中正路533号8楼
    发 明 (设计)人: 祁明仁;郭澎嘉
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 北京集佳专利商标事务所
    代 理 人: 王学强
    摘要
      一种自动化集成电路整机测试系统,通过一控制装置控制整个自动化集成电路整机测试系统的测试流程。其步骤包括:驱动一自动传送装置从集成电路供应装置抓取被测集成电路,分送至各个测试用电脑。驱动一自动插拔机构将各个被测集成电路分别与对应测试用电脑中的连接器连接。驱动各个测试用电脑进行一预定测试程序,并同时驱动一影像传感器监测执行状态,以决定各个集成电路是否正常。驱动自动插拔机构将被测集成电路从该测试用电脑中卸除,驱动自动传送装置将集成电路送至集成电路分类装置,根据其测试结果分类集成电路。
    主权项
      权利要求书 1.一种自动化集成电路整机测试控制方法,应用于一自动化集成 电路整机测试系统,该自动化集成电路整机测试系统包括: 多台测试用电脑,每一该些测试用电脑适于承载及测试一被测集 成电路,其中该测试用电脑承载该被测集成电路后构成一整机电脑, 以进行整机测试; 多个自动插拔机构,适于将该些被测集成电路置入该些测试用电 脑及自该些测试用电脑中移除; 一集成电路供应装置,适于暂存该些被测集成电路; 一集成电路分类装置,具有多个暂存位置,用以放置测试后的该 些被测集成电路; 一自动传送装置,适于自该集成电路供应装置抓取该些被测集成 电路,分送至该些测试用电脑,及将其传送至该集成电路分类装置中; 至少一影像传感器,适于感测该些测试用电脑的实时操作影像; 以及 至少一控制装置,电性连接该些测试用电脑、该自动传送装置、该 些自动插拔机构及该些影像传感器, 其特征是,该自动化集成电路整机测试控制方法包括: 该控制装置发出一第一讯号,操控该自动传送装置,自该集成电 路供应装置抓取该些被测集成电路,分送至该些测试用电脑; 2 该控制装置发出一第二讯号至该些自动插拔机构,将该些被测集 成电路置入该些测试用电脑,使其与该些测试用电脑电性连接,以形 成多台整机电脑; 该控制装置发出一第三讯号至该些整机电脑,驱动该些整机电脑 进行一预定的测试程序,并同时发出一第四讯号驱动该影像传感器, 侦测该些整机电脑的实时操作影像; 该控制装置分析该些整机电脑的测试结果及该些实时操作影像, 判断该些被测集成电路是否通过测试; 该控制装置发出一第五讯号,驱动该些自动插拔机构将该些被测 集成电路,自该些整机电脑中移除,并发出一第六讯号,驱动该自动 传送装置将该些被测集成电路传送至该集成电路分类装置,依照通过 测试与否,将该些被测集成电路放置于对应的该些暂存位置;以及 重复上述步骤。 3
         

          设为首页       |       加入收藏       |       广告服务       |       友情链接       |       版权申明      

    Copyriht 2007 - 2008 ©  科普之友 All right reserved