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    铁电电容器和半导体器件<%=id%>


    分 类 号: H01L27/10;G11C11/22
    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.11.1 JP 336576/2001
    申请(专利权)人: 富士通株式会社
    地 址: 日本神奈川
    发 明 (设计)人: 倉泽正树;丸山研二
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
    代 理 人: 王以平
    摘要
      本发明涉及一种铁电电容器和半导体器件,所述铁电电容器(30)包括:下电极(33);在下电极(33)上形成并具有钙钛矿型结构的铁电膜(34);以及在铁电膜(34)上形成的上电极(35)。铁电膜(34)包括:具有第一晶系的第一铁电膜部分(34A、34C),它沿与下电极(33)和上电极(35)中至少一个的至少一个界面上形成;以及具有第二晶系的第二铁电膜部分(34B),第二晶系不同于第一晶系。
    主权项
      权利要求书 1.一种铁电电容器(30),其中包括: 下电极(33); 在所述下电极(33)上形成并具有钙钛矿型结构的铁电膜(34); 以及 在所述铁电膜(34)上形成的上电极(35), 所述铁电电容器(30)的特征在于,所述铁电膜(34)包括:具 有第一晶系的第一铁电膜部分(34A、34C),它沿与所述下电极(33) 和所述上电极(35)中至少一个的至少一个界面上形成;以及具有第 二晶系的第二铁电膜部分(34B),所述第二晶系不同于所述第一晶系。
         

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