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| 所属分类： |
测量测试 |
项目来源： |
自创 |
| 技术持有方姓名： |
中国科学技术大学 |
所在地域： |
安徽 |
| 是否中介： |
否 |
是否重点项目： |
否 |
技术简介：
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该专利涉及的二维编码式零位对准标记和编码方法是增量式测量系统中绝对零位的对准标记和编码方法。
该标记由两块具有相同排列形式的黑色单元和白色单元的光栅板重叠放置组成，黑色单元不透光，白色单元透光；每一块光栅板标记的结构由一组沿二维方向排列的大小相等的非周期分布光栅单元组成，包括透光光栅单元和不透光光栅单元，透光光栅单元沿二维方向不规则分散排列，其余为不透光光栅单元，透光光栅单元数与总光栅单元数之间的比率一般取等于1/4。
所标记的光栅单元按二维方式的矩阵式进行编码，其中矩阵元xij等于"0"或"1"，m和n可以不相等，"1"表示透光，代表透光光栅单元；"0"表示不透光，代表不透光光栅单元。
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