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所属分类: |
测量测试 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
所在地域: |
上海 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
该专利是一种强激光脉冲光强分布测试系统。 其特点是:该系统沿光束前进方向依次有会聚透镜、第一劈板、第二劈板、成像透镜、中性衰减片、二维CCD摄像机关固定在一个滑板上,该滑板放置在一个精密滑轨上,一个计算机的输入端与该二维CCD摄像机的数据输出端相接,所述的第一劈板与激光光束的夹角为45°,第二劈板与第一劈板的反射光束的夹角亦为45°。 利用该测量系统能够得到光束截面上的光强定量分布和其他细节。
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