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所属分类: |
测量测试 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
浙江大学 |
所在地域: |
浙江 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
该荧光余辉测量装置包括:激发光源、控制样品曝光的曝光控制装置、用于曝光和测量的暗箱。其在暗箱上安装有样品座,在暗箱内设有接收样品余辉光信号的余辉探测器,余辉探测器的输出端与测量仪表相连。工作时,在曝光控制装置的控制下,样品受到激发光源辐照曝光;曝光结束,样品将不断释放荧光即余辉,由余辉探测器接收余辉,并将余辉光信号转换成电信号输入测量仪表,在仪表显示余辉亮度和余辉时间参数值。 该荧光余辉测量装置结构紧凑、简单。它利用曝光控制装置和连体的曝光、测量暗箱,将样品的曝光和测量有机地结合在一起,测量数据准确,一致性好,使用方便。
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