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| 所属分类： |
测量测试 |
项目来源： |
自创 |
| 技术持有方姓名： |
中国科学院化学研究所科技处 |
所在地域： |
北京 |
| 是否中介： |
否 |
是否重点项目： |
否 |
技术简介：
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辐照显示薄膜剂量计是一种对辐照剂量作出实时监测和显示的仪器，当受到Co60γ-射线辐照时会发生颜色的变化，从而通过色泽相应的深浅反映出辐照剂量的强弱。该剂量计可满足102-104GY范围使用，具有性能稳定、灵敏度高、重复性好等优点。
该产品可适用于拥有钴源的医疗、农业、核工业等单位使用，还可作紫外线准分子激光器和电子束记录用。其生产所需主要设备为涂布机等。另需厂房200平方米；人员10人。
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