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所属分类: |
测量测试 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
中国科学院合肥智能机械研究所 |
所在地域: |
安徽 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
该专利属于痕量*物检测技术领域。 该方法利用不同的固态*物具有不同的熔点和蒸发点这个物理特性,采用电加热的方法,在其熔点或蒸发点附近进行临界恒温、阶跃升温、循环控温、再次阶跃升温等一系列温度控制,使落在样品台上的*物微粒熔解或蒸发,并产生相变吸热。然后采用温度敏感元件测量样品台在某相特征点附近的温度变化,即可判断样品能上能台上是否有*物微粒并识别出其种类。 该专利发明的检测方法能在一次较大范围的升温过程中,完成对多种*物微粒的检测。其原理简单、易于实现。技术成熟后可形成一种新的轻小型*物探测器产品,具有体积小、重量轻、成本低、可便携使用等特点,可灵活地用于各种公共场所的*物探测。
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