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| 所属分类： |
仪器仪表 |
项目来源： |
自创 |
| 技术持有方姓名： |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
所在地域： |
上海 |
| 是否中介： |
否 |
是否重点项目： |
否 |
技术简介：
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该专利是一种离轴双波带片原子束像面全息记录装置，适用于测量重力场、电磁场等能够引起原子束位相变化的物理量。
该装置包括：真空外壳，在该真空外壳内置有原子束源，垂直于从原子束源发射的原子束流前进方向上并列置放的第一微波带片和第二微波带片，在第一微波带片与原子束源之间的原子束流中置放待测样品，通过待测样品和第一微波带片的物束，与通过第二微波带片的参考束，在置于微波带片像面上的微通道板上产生干涉信号，并由微通道板产生电荷，通过探测器至计算机进行数字重构。
与在先技术相比，该全息记录装置全过程小、灵敏度高、分辨率高和成像质量较发
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