集成电路全速电流测试方法<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院计算技术研究所	所在地域：	北京
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	其步骤包括：第一步，确定测试频率；第二步，确定测试波形模式；第三步，确定可测试性测度及其阈值；第四步，测试波形生成；第五步，运行测试。利用该方法也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障，即所谓的冗余故障。其测试效率较高，适应于大批量集成电路芯片生产线的需要；不需要特别高指标的昂贵的测试仪。其故障覆盖率高，适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。该专利还提供了针对高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路可直接用其工作频率进行全速电流测试的方法，其测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定，可以慢到毫秒级。