远离物体微位移测量装置<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所	所在地域：	江苏
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该专利是一种远离物体微位移测量装置。该装置包括由光源、光学组件及光信号读数处理器组成的光路，其特征是：设置两条光路，一条为球面镜光路，另一条为平面镜光路。球面镜光路由一点光源发出光经成像物镜后获得第一像点，再经球面镜反射后再次成象于CCD器件上形成第二像点；平面镜光路由另一点光源发出光经成像物镜并通过一平面镜反射成象于CCD器件上；将光路中点光源、成像物镜CCD器件置于"固定体"上，球面镜及平面镜则置于"活动体上"。