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所属分类: |
测量测试 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
中国科学院物理研究所 |
所在地域: |
北京 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
该实用新型专利提供了一种具有干涉及强度双测量功能的超短激光脉冲自相关测量仪,涉及超短激光脉冲测量技术领域。 该实用新型专利是通过在迈克尔逊干涉仪结构基础上,线性平移一臂或线性振动另一臂来实现的。 该自相关测量仪功能齐全,测量方便,体积小巧紧凑,便于拆卸,所适用的波长范围宽,可与众多激光产品配合使用,适用于不同重复频率的激光光源。其干涉与强度两种测量方法可相互校准,保证了测量的精确性和可靠性。
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