环境样品多元素测定X射线荧光分析仪的研究<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	唐山师范学院	所在地域：	高校
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该产品采用电制冷高分辨率Si-PIN半导体探测器、可控X射线源、真空靶室系统、脉冲幅度分析器，可实现对环境样品中Ca、Si、Al、Fe、Mg、K等元素的分析。该研究达国际先进水平。