光存储材料存储特征的测试仪<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院上海光学精密机械研究所	所在地域：	上海
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该专利是一种光存储材料存储特征的测试仪，主要适用各种光盘记录层材料存储特征的测试。该测试仪包括测试光源部分、测试显示部分、光速写入读出部分、调整被测位置部分、监视显示部分和监视光源。其中光速写入读出部分置于被测样品的被测记录层表面之上，有高数值孔径物镜与半球形固体浸润透镜结合为更高数值孔径的显微物镜。该测试仪比以往技术的测试装置分辨率高、测量精度高。它更换高数值孔径物镜和半球形固体浸润透镜较为方便，调节被测样品的位置也方便。该测试仪配有监视显示部分和监视光源，可以直观地监视调焦过程，并直接观察记录光斑和记录点的形貌，使装置测试直观而操作方便，提高了测试效率。