材料损坏测量仪<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院上海光学精密机械研究所	所在地域：	上海
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该专利是一种材料损坏测量仪。该测量仪在外壳内置有激光器，沿着激光器发射光束前进的方向上，同光轴地依次置有扩束镜、反射面与光轴成a角置放的半反半透镜、偏振片、偏振棱镜、凸透镜，以及置放待测材料的调整架。发射光束穿过含有损坏点的待测材料后，射到在光路端点处的全反射镜上被反射后沿原光路返回。在半反半透镜反射光束的方向上置有显示观测器件。该测量仪具有光路简单紧凑，易于调整，使用方便，成本低，测量精度高的优点。它主要适用于透明材料。