检测光学系统光远场参量的方法及其装置<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院上海光学精密机械研究所	所在地域：	上海
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该专利为一种检测光学系统光远场参量的方法及其装置。该专利提供了一种将光纤探针的带小孔针尖置于被测样品光远场位置上进行扫描的光纤探针扫描法。检测的装置主要包含中心轴线上置有光纤探针的具有三维粗细调的光纤扫描器。光纤探针将接收到的光信号传送给光电探测器，再经锁相放大器输入计算机。计算机通过高压放大器控制光纤探针扫描。该专利具有对被测样品光远场的高精度和实时给出光参量的两维或三维分布的特点。