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不透明材料内部微/纳米级体缺陷的检验方法<%=id%> |
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所属分类: |
测量测试 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
清华大学 |
所在地域: |
北京 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
这是一种基于散射原理对不透明材料内部微/纳米级体缺陷进行检测的方法,属于无损检测领域。该检测方法用针对被检测材料透明或半透明的光源,发出波长为0.8~11.6μm的光束经小孔空间滤波后,进入聚焦系统聚为一微细光束。将此微细光束打入被测材料内部,通过三维超精密工作台移动被测材料,实现聚焦激光束焦点对材料内部各层面的扫描。将图象传感器放在与由激光器、小孔及聚焦系统构成的光轴垂直的方向上接收散射光,由散射光分布可判断材料内部有无缺陷及缺陷的大小等。 采用该方法检测不透明材料,其探测微缺陷的尺度可小至纳米。
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