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所属分类: |
仪器仪表 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
北京清华大学 |
所在地域: |
其它 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
本产品由中国计量科学研究院测试检定,并与美国HP-5528双频激光干涉仪比对,证明:(1)本产品具有与HP-5528相同的精度,且读数稳定性与置信度优于HP-5528;(2)本产品在30米测量范围内无死区,而HP-5528必须更换附件,否则有死区;(3)本产品允许测量元件离开光路,因此可以测量同轴度不连续表面平面度,而HP-5528无此功能。测量范围:30米。 |
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