连续采样的哈特曼检测装置<%=id%>

所属分类：	综合其他	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院上海光学精密机械研究所	所在地域：	上海
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该发明专利是一种用于透镜光学质量检测的连续采样的哈特曼检测装置。该装置由照明系统、光束扫描机构、被检透镜、图像接受系统以及系统控制与数据处理软件组成。其特征为：所述的照明系统是一输出光束口径可调的准直光源；所述的光束扫描机构由圆形屏、第一步进电机、一维电动调整架和支架组成；所述的图像接受系统包括CCD 摄像机、导轨、第二步进电机、支架和计算机；所述的计算机与第一步进电机、第二步进电机、第三步进电机和CCD 摄像机通过信号线相连。该装置能对被检透镜进行全面检测，可以得到被检透镜的局部误差；采样光束口径大小可以随意调节，检测波长可变；减小了照明系统的设计与加工难度，提高了检测的效率，实现了哈特曼光阑检测法的智能化和数字化。