掠发射X射线荧光分析用样品制备装置<%=id%>

所属分类：	综合其他	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	所在地域：	吉林
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该发明专利一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置，属于X射线荧光分析应用技术领域。该发明专利要解决的技术问题是：使待测分析物质产生高温等离子体，高速喷发沉积在透明载物片上，形成待测样品。该发明专利提出的技术解决方案是：采用脉冲宽度足够窄的激光器作光源，选择非球面聚光镜聚焦激光能量，待测物的载台沿光轴方向可调，待测物的所在环境为真空室。该装置由激光光源、聚光镜、样品盒、调整鼓轮、螺纹副、待测物载台、待测物、透明载物片、真空室等部分组成。该装置制备分析样品工艺过程简单、快捷，样品纯度高、质量好、适于X射线荧光分析。