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    平面参数的测量方法及车轮定位系统<%=id%>

     
     
         项目名称:平面参数的测量方法及车轮定位系统
         所属技术领域:电子、电器、测试
         专利号:02145602.X
         所有权人:
     
    发明人背景:学历:硕士,专业:电子工程,技术职称:工程师,现任职务:总工程师。 技术简介:本发明涉及几种平面参数的测量方法和一种车轮定位装置。其测量方法的基本思想为:一参数(如出射方位)可测量或可控制的光面或光束射向一个反光面再到达到光接收器,分析光接收器收到的光信息,再计算反光面的平面参数。使用上述方法制成的平面参数测量装置可组成四轮定位仪,该四轮定位仪生产成本低,维修成本低,使用方便。 使用该专利可生产非接触车轮定位仪,相对同类产品,测量周期比其他的短5~10倍,专用于检测线时测量周期可降低到每台车1分钟;组件数量少一半;现场标定,可保证高精度;可用该专利生产大车定位仪,多轮定位仪;成本低,可靠性高。
     
    联系人:胡修泰
    联系电话:010-60215309
    传 真:
    Email: 网 址:www.bjwlm.com
    地 址:102600北京大兴福苑小区16-2-202 发布日期:2004-3-31
         

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