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分 类 号：
G11B5/39;G11B5/455
颁 证 日：
优 先 权：
1998.2.27 JP 047469/98;1998.3.12 JP 061133/98
申请(专利权)人：
阿尔卑斯电气株式会社
地 址：
日本东京都
发 明 (设计)人：
川田贞夫;诸江道明
国 际 申 请：
国 际 公 布：
进入国家日期：
专利 代理 机构：
北京三幸商标专利事务所
代 理 人：
刘激扬
摘要
本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置，该磁头具有薄膜元件，并且设有与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时，不会烧毁MR头。
主权项
权利要求书
1.一种磁头的检查方法，该磁头具有薄膜元件，并且设有
与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：
将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从
DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上
的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的
工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将
上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR)
测定的工序。
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