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    薄膜晶体管存储器件<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.8.23 US 09/934548
    申请(专利权)人: 惠普公司
    地 址: 美国加利福尼亚州
    发 明 (设计)人: ·梅;小J·R·伊顿
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中国专利代理(香港)有限公司
    代 理 人: 傅康;梁永
    摘要
      一种存储器件包含薄膜晶体管存储单元的存储器阵列。存储单元包括被绝缘体分隔于栅线的栅电极部分的浮栅。栅电极部分包括在施加写入电压时通过绝缘体扩散的扩散性导体。扩散性导体形成通过绝缘体的导电路径,使栅线耦合到浮栅,改变了栅电容因而也是存储单元的状态。存储单元是三端器件,读出电流在读出过程中不通过存储单元中的导电路径(CP)。由于读出电流不干扰存储单元中的存储机制,故使存储单元变得坚固耐用。可以用使用同一个掩模的多个步骤来制造存储器阵列。
    主权项
      权利要求书 1.一种对包含多个三端存储单元(200,400)的存储器阵列(100) 进行写入的方法,此方法包含: 将写入电压施加到被选择的存储单元(200,400),此写入电压 使导电元素通过被选择的存储单元(200,400)扩散,并改变存储单 元(200,400)的电容。
         

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