液晶显示设备的光栅缺陷校正方法及其光栅缺陷校正器件<%=id%>

分类号： G02F1/136;G02F1/1337;G02F1/1335
颁证日：
优先权： 2001.9.27 JP 295819/2001
申请(专利权)人：日本电气株式会社
地址：日本东京
发明 (设计)人：若林浩次
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人：穆德骏;关兆辉
摘要
　一种为了在校正液晶显示器件的光栅缺陷时能够有效和高速的消除定向层的定向特性的光栅缺陷校正方法。通过以一个激光束扫描定向层而破坏该定向层的槽的规律性，该激光束的光束形状的纵方向正交于该定向层的槽的方向。一个定向层的槽方向被形成为45度，且另一个定向层的槽方向被形成为135度时，该光束形状和光束能量依据该激光束的扫描进程而被控制。进一步地，该激光束既从滤色器侧、也从经液晶层与之对置的阵列基底侧(TFT侧)照射定向层。
主权项
　权利要求书 1.一种光栅缺陷校正方法，该方法通过消除与液晶显示器件的液晶层相接触的定向层的槽的取向来校正光栅缺陷，其中定向层的槽是通过用激光束扫描该定向层被除去的，该光束形状的纵方向正交于定向层的槽的方向。

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