美科学家纳米研究获得突破

 
　　本报华盛顿4月3日电  正在此间举行的“纳米技术商业化”会议上，美国FEI公司宣布，该公司纳米技术研究中心的科学家，利用新型200千伏透射电子显微镜（TEM），使图像的分辨率达到低于1埃的新水平。该公司确信，这是采用商业上可获得的技术，首次以0.7埃的分辨率对图像进行直接观测。

　　1埃是十分之一纳米，而1纳米是1米的十亿分之一。1埃相当于碳原子大小的三分之一，也是原子级研究工作中的重要尺度。 

　　这一纳米级研究技术上的突破，使科学家可以用低于1埃的图像分辨率，研究温度、应力和化学环境微小变化对材料产生的影响。在纳米技术发展中，各种先进的观测和测量仪表，已成为关键因素。为了控制和诊断纳米级的各个工业过程，各国正争先发展这种高分辨率的、透射电子显微技术。 

　　FEI公司采用电子束单色仪来改进电子显微镜的分辨率。该公司也是第一个将透射电子显微镜同单色仪技术相结合的公司。