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分 类 号：
G01R1/04;G01R1/073;G01R31/00
颁 证 日：
优 先 权：
申请(专利权)人：
陈文祺
地 址：
中国台湾
发 明 (设计)人：
陈文祺
国 际 申 请：
国 际 公 布：
进入国家日期：
专利 代理 机构：
北京集佳专利商标事务所
代 理 人：
王学强
摘要
一种探针测试卡的探针包覆装置，该探针测试卡可装设于芯片测试机台上，用于芯片的测试，而该探针测试卡的构造是在一电路板上设有多个电极，该等电极则分别连接有细如毛发的探针，该等探针分别连接于电极，而该等探针的另一端悬空，能用来侦测晶片上芯片的接点，该探针外部包覆有一绝缘层及一金属包覆层，本发明主要是在探针测试卡的探针外部设置一金属包覆层，该金属包覆层可提供良好的电磁遮蔽效果，可达到较佳的遮蔽保护效果，使探针与探针之间电磁干扰得以有效的降低，使得探针可正常运作，芯片测试合格率大幅提高。
主权项
权利要求书
1、一种探针测试卡的探针包覆装置，其特征是，在一电路板
上设有多个电极分别连接有探针，而该等探针的另一端悬空，能用
来侦测晶片上芯片的接点，该等探针各包覆有一绝缘层及一金属包
覆层，该绝缘层包覆于探针外部，该金属包覆层包覆于绝缘层外部。
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