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    高压元件的周边<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.9.26 US 01/12383
    申请(专利权)人: T微电子公司
    地 址: 法国蒙鲁日
    发 明 (设计)人: 帕斯卡·迦德斯
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
    代 理 人: 王永刚
    摘要
      一种在一部分绝缘体上的半导体衬底中形成元件的方法,特征在于:侧壁由绝缘层与所述部分内部的周边区隔开,并重掺杂成与所述衬底相同的导电类型。与所述壁同时在衬底表面的保护层上形成导电板,所述板与周边区电接触,所述板在所述周边区上相对于壁向所述部分内部延伸,超出了周边区和衬底之间的界限上的位置。
    主权项
      权利要求书 1.一种在一部分绝缘体(3)上的第一导电类型半导体衬底(1) 中形成元件的方法,特征在于:侧壁(21)由绝缘层(10)与所述部 分内部的周边区(8)隔开,并重掺杂成第一导电类型,其中与所述壁 同时在衬底表面的保护层(6)上形成导电板(22),所述板与周边区 电接触,所述板在所述周边区上相对于壁向所述部分内部延伸,超出 了周边区和衬底之间的界限上的位置。
         

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